什么是老化？
老化是一種試驗(yàn)，用來篩選或排除少量因制造失常而導(dǎo)致固有缺陷或缺陷的設(shè)備，而這些缺陷會(huì)引發(fā)和時(shí)間和應(yīng)力相關(guān)的故障。
為什么要老化？
可靠性專家經(jīng)常使用一個(gè)圖像來描述產(chǎn)品的壽命，這個(gè)圖像被稱作浴盆曲線。
浴盆曲線由3個(gè)階段組成：故障率減小的早期故障階段，接下來為正常壽命階段（也叫做有效壽命），故障率較低且相對穩(wěn)定，zui后為磨損階段，故障率是增加的。
注意，老化并非是產(chǎn)品改進(jìn)技術(shù)。對一些產(chǎn)品進(jìn)行老化不能改善每個(gè)單元單獨(dú)的可靠性。然而，老化通過清除劣質(zhì)的部分來提高了整體的可靠性，使得單元總體更加可靠和均勻。老化同樣還會(huì)提供
造成早期故障的不同故障機(jī)理的重要信息，為監(jiān)控制造過程的質(zhì)量工程師和幫助分析導(dǎo)致早期故障機(jī)理出現(xiàn)的變化提供有價(jià)值的反饋。
很多類型的設(shè)備和系統(tǒng)在早期壽命中展示出固有的減少的故障率特性。相對較高的早期故障率通常歸因于生產(chǎn)過程中的固有不確定性。很長時(shí)間以來，老化已經(jīng)被認(rèn)為是在交貨前檢測和消除部件或系統(tǒng)
早期故障的一種有效方法。沒有老化，缺陷部件可能就被交付到了用戶手中，導(dǎo)致昂貴的現(xiàn)場維修和名譽(yù)上的損害。
老化就是藉由讓半導(dǎo)體進(jìn)行負(fù)荷工作而使缺陷在短時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)，避免在使用早期發(fā)生故障。如果不藉由老化，很多半導(dǎo)體成品由于器件和制造制程復(fù)雜性等原因在使用中會(huì)產(chǎn)生很多問題。
對一電子部件進(jìn)行老化試驗(yàn)。在初始的試驗(yàn)中，累積的故障百分比如下：
1、第1天有6%故障
2、第2天有10.1%故障
3、第3天有12%故障
4、第4天有13.8%故障
5、第5天有14.5%故障
6、第6天有15%故障
7、第7天有15.1%故障
由此，武漢尚測設(shè)計(jì)制造的各種老化房符合標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 2423.2—2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》、MIL-M-38510、GJB548、MIL-STD-883D、GJB597等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。
武漢PCBA老化房，集成電路高溫動(dòng)態(tài)老化房適用范圍：適用于各種封裝形式的大、中、小規(guī)模數(shù)字、模擬、數(shù)模混合集成電路，包括微處理器、邏輯電路、可編程器件、存儲(chǔ)器、A/D、D/A等器件的工作壽命試驗(yàn)和高溫動(dòng)態(tài)老化篩選。
一、集成電路高溫老化系統(tǒng)技術(shù)特點(diǎn)：
① 、 一板一區(qū)，可滿足16種不同試驗(yàn)參數(shù)的器件同時(shí)老化。
② 、強(qiáng)大的圖形發(fā)生系統(tǒng)，64路數(shù)字和2路模擬可編程信號(hào)。
③ 、完善的、種類齊全的老化器件數(shù)據(jù)庫可供用戶調(diào)用。
二、集成電路高溫老化系統(tǒng)技術(shù)性能
2.1、PCBA老化房試驗(yàn)區(qū)域
8個(gè) （一板一區(qū)）
16個(gè) （一板一區(qū)）
2.2、老化試驗(yàn)容量
①、200×16=320位（以DIP14為例）
② 、136×8=1088位（以DIP14為例）
2.2.1、老化一級(jí)電源
①、8∽16臺(tái)25V/40A或40V/2等規(guī)格可選
② 、4∽8臺(tái)25V/40A或40V/2等規(guī)格可選
2.2.2、老化二級(jí)電源
◆每個(gè)通道提供獨(dú)立程控的VCC、VMUX、VCLK、VEE四路二級(jí)電源。
◆每路二級(jí)電源具有過壓、欠壓、過流、短路和過熱等保護(hù)功能。
◆輸出能力：±1.00V～±18.00V/10A。
◆電源監(jiān)測：實(shí)時(shí)監(jiān)測記錄二級(jí)電源的電壓，并可生成圖形曲線，便于試驗(yàn)監(jiān)控。
2.2..3、數(shù)字信號(hào)
◆每個(gè)通道：64路數(shù)字信號(hào)。
◆編程能力：編程深度256Kbit；zui小編程步長：100ns；編程分辨率：100ns；zui高信號(hào)頻率：5MHz。
◆尋址能力：可尋址64Gbit(老化ROM/SRAM等) A00～A35, 可尋址行列地址刷新器件64Gbit（老化DRAM/SDRAM等）AXX～A17，AYY：A00～A17。
◆信號(hào)特性：每路均具有數(shù)據(jù)、地址、控制、三態(tài)屬性編輯功能。
◆驅(qū)動(dòng)能力：IOL≥300mA、IOH≥100mA、Tr≤50ns、Tf≤50ns。
2.2..4、集成電路高溫老化系統(tǒng)模擬信號(hào)
◆模擬信號(hào)數(shù)：2路
◆波形類型：正弦波、三角波、前沿鋸齒波、后沿鋸齒波、矩形波。
◆模擬信號(hào)指標(biāo)： 信號(hào)可編程頻率：1Hz～32KHz； 程控幅度范圍Vpp：0～±10V；
直流偏移量范圍Vdc：0～1/2 Vpp；編程步長: 0.01V；驅(qū)動(dòng)能力：≥1.0A。
尚測經(jīng)過十年的努力，已經(jīng)躋身于老化*，其設(shè)計(jì)制造的各種老化房具有如下特色：
1.溫度控制準(zhǔn)確，精度高。由于采用了*的風(fēng)道系統(tǒng)設(shè)計(jì)及電控系統(tǒng)，能保持整個(gè)房間溫度高度均勻性，大大高于同類產(chǎn)品。
2.房間設(shè)定溫度范圍廣，連續(xù)可調(diào)。在常溫（常溫+10℃－70℃）范圍內(nèi)可任意設(shè)定。
3.能確保安全長期穩(wěn)定*運(yùn)行。
4.厚鋼板及保溫層、不銹鋼材料加固房體等措施。
5.試驗(yàn)室結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)先進(jìn)合理，配套產(chǎn)品和功能元器件具有同行的先進(jìn)水平，能夠適應(yīng)長期、穩(wěn)定、安全、可靠的生產(chǎn)需求。
6.設(shè)備主要部件選用國內(nèi)外品牌廠家的產(chǎn)品，確保整機(jī)的質(zhì)量和性能。
7.外形美觀，施工方便，施工周期短。
8．高溫老化房為方便試品進(jìn)出工作室，采用落地式箱體結(jié)構(gòu)。落地式庫板拼裝結(jié)構(gòu)，可以zui大化減少設(shè)備后期的搬遷，擴(kuò)張導(dǎo)致的浪費(fèi)。
9.高溫老化房組成：加熱、降溫、風(fēng)道循環(huán)、照明、排風(fēng)、中央控制柜等部分組成。
10.采用高性能的75mm雙面彩鋼巖棉庫板，安全環(huán)保，保溫，大大降低設(shè)備的能損，同時(shí)達(dá)到節(jié)能的功效。
11.控制系統(tǒng)中關(guān)鍵元器件均采用*產(chǎn)品，相比國產(chǎn)儀表而言，更保證性能穩(wěn)定可靠。
12.安全的輸出保護(hù)電器，保護(hù)試件和試驗(yàn)系統(tǒng)的安全，完善的保護(hù)措施，系統(tǒng)安全可靠。
13.人性化的軟件操作界面，易學(xué)易用，自動(dòng)或手動(dòng)產(chǎn)生試驗(yàn)報(bào)表。
14.房體大門：單開門（或雙扇開門）1000*1900mm（寬*高）一扇，充分考慮樣品車進(jìn)出方便，防反鎖，確保從里面能順利開啟。
15.門觀察窗：為便于觀察箱內(nèi)試品的情況，觀察窗材料均為多層鋼化玻璃構(gòu)成的中空電阻膜加熱防霜玻璃，與業(yè)界傳統(tǒng)的普通玻璃相比，多層鋼化玻璃不僅堅(jiān)實(shí)安全，同時(shí)可以防止表面起霧，隨時(shí)保持清晰的觀測箱內(nèi)的狀況。
16.房體觀察窗：雙層鋼化玻璃，230*450mm（寬*高）
17.照明裝置：老化房內(nèi)設(shè)置有2盞40W／220V防潮、防爆照明燈，防護(hù)等級(jí)滿足IP65，防爆等級(jí)符合GB3836-2000《爆炸性氣體環(huán)境用電氣設(shè)備》標(biāo)準(zhǔn)。可手動(dòng)直接開關(guān)控制，避開箱體中部樣品區(qū)。
